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Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, Fachbücher von H. Rohrer, N. García, R. J. Behm
Das Fachbuch "Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods" bietet eine umfassende Einführung in die Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden. Verfasst von den renommierten Autoren H. Rohrer und N. García, richtet sich das Buch an Studierende und Fachleute im Bereich der Physik sowie der Mathematik und Naturwissenschaften. Mit 526 Seiten behandelt es sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, die eine entscheidende Rolle in der modernen Materialwissenschaft spielt. Die erste Auflage, veröffentlicht im Jahr 2010, ist in englischer Sprache verfasst und bietet eine detaillierte Analyse der Techniken und Anwendungen dieser innovativen Mikroskopiemethode. Die kompakte Grösse von 16 cm in der Breite und 24 cm in der Höhe macht das Buch zu einem handlichen Begleiter für Studierende und Forscher.
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2
Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 156
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Atom Probe Microscopy, Fachbücher von Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. RingerDas Buch "Atom Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Atomsondenmikroskopie, eine Technik, die es ermöglicht, die Struktur und Chemie von Materialien in drei Dimensionen mit nahezu atomarer Auflösung zu charakterisieren. In den letzten zehn Jahren hat sich das Gebiet durch bedeutende instrumentelle Fortschritte, wie die Entwicklung von Weitwinkel-Detektoren und pulslaserunterstützter Verdampfung, erheblich weiterentwickelt. Diese Fortschritte haben die Möglichkeiten der Technik erheblich erweitert und sie zu einem anerkannten Standardverfahren in der Materialcharakterisierung gemacht. Das Buch behandelt alle Aspekte der Atomsondenmikroskopie, einschliesslich der Feldionenmikroskopie und der Felddesorptionsmikroskopie, mit einem besonderen Fokus auf die Atomsondentomographie. Es richtet sich an Forschende aller Erfahrungsstufen und bietet sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern wertvolle Informationen und Referenzen.299,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators, Taschenbuch von Christopher Friedrich Reiche, TUDpress,Novel Sensors For Scanning Force Microscopy Based On Carbon Nanotube Mechanical Resonators, Taschenbuch Von Christopher Friedrich Reiche, Tudpress, 978-3-95908-068-2, Seitenanzahl: 17636,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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PCE SPM 1 - Solarmessgerät PCE-SPM 1Solarmessgerät inkl. Software PCE-SPM 1 Arbeitsschutzmessgerät mit integriertem Sensor, ermittelt die Energieausbeute an Solaranlagen dient ebenfalls zur Findung optimaler Solar-Standorte für Neuanlagen Einstrahlung P tot ermöglicht Langzeitmessung über den internen Messwertspeicher (32.000) Übertragungs- und Auswertesoftware im Lieferumfang enthalten (in englisch) Min-, Max- und Data-Hold Funktion Versorgung mittels 4 Li-Ionen-Batterien (Lebensdauer ca. 16 Tage bei Dauereinsatz) Produktvorteile: Das Arbeitsschutzmessgerät für solare Energie ist das optimale Hand - Prüfgerät für Solaringenieure, Architekten und Hobby-Solarteure. Mit diesem Arbeitsschutzmessgerät ermitteln Sie die Solar-Leistung. Damit wird eine Aussage über die Zusammenstellung und Auslegung einer Photovoltaikanlage möglich. Die Messung der Lichtintensität erfolgt über eine monokristalline Silizium-Solarzelle. Der in das solare Arbeitsschutzmessgerät integrierte Prozessor sorgt für eine automatische Korrektur zum Erhalt der Grundgenauigkeit nach der Kalibrierung jedes Gerätes im Solar-Simulator. Die wichtigste Kenngröße P tot (in W/m2) ist direkt am Display ablesbar. Die im internen Speicher (32.000 Messwerte) enthaltenen Daten können mit Hilfe der Software an die serielle Schnittstelle eines PC übertragen werden. Dieses Arbeitsschutzmessgerät wurde auch für den Außeneinsatz konzipiert und besitzt ein witterungsbeständiges Kunststoffgehäuse. Seine kompakten Abmessungen erlauben eine komfortable Einhandbedienung. 1. Solar - Direktmessung vor Ort Mit dem Arbeitsschutzmessgerät kann eine direkte Messung der Energie an einer definierten Position vorgenommen werden. Diese Messwerte können u. a. zur Überprüfung des Wirkungsgrades von PV-Modulen oder Solar Thermie-Anlagen herangezogen werden. 2. Simulation von Temperatur, Leistung, Spannung und Strom von PV- Modulen Achtung: nur in Kombination mit dem von uns angebotenen Multimeter möglich. 3. Langzeitmessungen Für Messungen über längere Zeiträume ist das Arbeitsschutzmessgerät intern mit einem Datenlogger ausgestattet. Sonnenstrahlung Das Arbeitsschutzmessgerät erkennt die volle solare Strahlung, d.h. sowohl die direkte Strahlung, als auch die difusse solare Strahlung der Atmosphäre. Der größte Energieanteil der Sonnenstrahlung, der auf die Oberfläche der Erde reflektiert, befindet sich in der infraroten sichtbaren Streife des Spektrums, da die Ultraviolettstrahlung durch die Atmosphäre absorbiert wird. Die Sonnenstrahlung ist unterschiedlich im Laufe des Jahres, da der Winkel der einfallenden Lichtstrahlen im Sommer größer als im Winter ist und die Strahlen fallen im Sommer senkrechter ein. Technische Daten: Technische Spezifikation Messbereich 0 ... 2000 W/m2 Auflösung 1 W/m2 Genauigkeit +-10 W/m2 oder +-5 % (es gilt der höhere Wert) Spektralbereich 400 ... 1100 nm Datenspeicher 32.000 Messwerte Messrate einstellbar Datenübertragung serielle RS232-Schnittstelle Anzeige LCD Umgebungstemperaturbereich 0 ... +50 °C Max. Feuchte Betriebsversorgung 4 x 1,5 V AAA Li-Ionen-Batterie (für ca. 16 Tage Dauereinsatz) Abmessung 111 x 64 x 34 mm Gewicht 165 g Lieferumfang: 1 x Arbeitsschutzmessgerät PCE-SPM 1 1 x interner Sensor 1 x interner Messwertspeicher 1 x RS-232-PC-Kabel 1 x Software 4 x Batterie 1 x Gerätetasche 1 x Anleitung320,95 €*Versand: 5,95 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
RPI DEBUG PROBE - Raspberry Pi Debug Probe
Die Raspberry Pi Debug Probe ist ein All-in-One-USB-to-Debug-Kit, das alle erforderlichen Hardware und Kabel für einfaches, lötfreies Plug-and-Play-Debugging bereitstellt. Es verfügt sowohl über eine serielle Debug-Schnittstelle des Prozessors (standardmäßig die Arm Serial Wire Debug-Schnittstelle, aber andere Schnittstellen können unterstützt werden), als auch über eine branchenübliche UART-Schnittstelle. Beide Schnittstellen verwenden den 3-poligen Debug-Anschluss des Raspberry Pi, wie in der Spezifikation des 3-poligen Debug-Anschlusses des Raspberry Pi beschrieben (siehe Datenblätter). Die Raspberry Pi Debug Probe ist ein Kit, das die Debug Probe-Hardware in einem eigenen Kunststoffgehäuse zusammen mit einem USB-Kabel und drei Arten von Debug-Kabeln umfasst und die überwiegende Mehrheit der Debug-Anwendungsfälle abdeckt. Es wurde entwickelt, um das Debuggen und Programmieren von Raspberry Pi Pico und RP2040 mit einer Reihe von Hostplattformen, einschließlich Windows, Mac und typischen Linux-Computern, zu vereinfachen, auf denen Sie keinen GPIO-Header haben, um sich direkt mit dem seriellen UART oder dem Pico zu verbinden (SWD-Port). Obwohl die Debug Probe für die Verwendung mit Raspberry Pi-Produkten entwickelt wurde, bietet sie standardmäßige UART- und CMSIS-DAP-Schnittstellen über USB, sodass sie auch zum Debuggen aller Arm-basierten Mikrocontroller verwendet werden kann, die einen SWD-Port mit 3V3-E/A oder sogar nur bereitstellen als USB-zu-UART-Kabel. Es funktioniert mit OpenOCD und anderen Tools, die CMSIS-DAP unterstützen. Die Debug Probe basiert auf der Raspberry Pi Pico-Hardware und führt die Open Source Raspberry Pi Picoprobe- Software aus. Die Firmware wird auf die gleiche Weise wie die Raspberry Pi Pico-Firmware aktualisiert, sodass es einfach ist, das Gerät mit der neuesten Firmware auf dem neuesten Stand zu halten oder eine benutzerdefinierte Firmware zu verwenden. Spezifikation • USB zu serieller Debug-Bridge mit zwei Drähten • ARM Serial Wire Debug wird standardmäßig unterstützt • USB-zu-UART-Brücke • kompatibel mit dem CMSIS-DAP-Standard • funktioniert mit OpenOCD und anderen Tools, die CMSIS-DAP unterstützen • befolgt die Spezifikation für den 3-poligen Debug-Anschluss von Raspberry Pi • Nominale E/A-Spannung: 3,3 V • Maße (LxB): 32 × 22 mm Lieferumfang • Debug Probe Platine • hochwertiges transparentes Kunststoffgehäuse • USB-Kabel • Debug-Kabel: 3-poliger JST-Stecker auf 3-poliges JST-Steckerkabel • Debug-Kabel: 3-poliger JST-Anschluss an 0,1-Zoll-Header (weiblich) • Debug-Kabel: 3-poliger JST-Stecker auf 0,1-Zoll-Header (männlich) Nützliche externe Links https://www.raspberrypi.com/documentation/microcontrollers/debug-probe.html https://github.com/raspberrypi/picoprobe
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Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods, Fachbücher von H. Rohrer, N. García, R. J. BehmDas Fachbuch "Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods" bietet eine umfassende Einführung in die Rastertunnelmikroskopie und verwandte Methoden. Verfasst von den renommierten Autoren H. Rohrer und N. García, richtet sich das Buch an Studierende und Fachleute im Bereich der Physik sowie der Mathematik und Naturwissenschaften. Mit 526 Seiten behandelt es sowohl theoretische als auch praktische Aspekte der Rastertunnelmikroskopie, die eine entscheidende Rolle in der modernen Materialwissenschaft spielt. Die erste Auflage, veröffentlicht im Jahr 2010, ist in englischer Sprache verfasst und bietet eine detaillierte Analyse der Techniken und Anwendungen dieser innovativen Mikroskopiemethode. Die kompakte Grösse von 16 cm in der Breite und 24 cm in der Höhe macht das Buch zu einem handlichen Begleiter für Studierende und Forscher.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 15669,90 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atom Probe Microscopy, Fachbücher von Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. RingerDas Buch "Atom Probe Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Atomsondenmikroskopie, eine Technik, die es ermöglicht, die Struktur und Chemie von Materialien in drei Dimensionen mit nahezu atomarer Auflösung zu charakterisieren. In den letzten zehn Jahren hat sich das Gebiet durch bedeutende instrumentelle Fortschritte, wie die Entwicklung von Weitwinkel-Detektoren und pulslaserunterstützter Verdampfung, erheblich weiterentwickelt. Diese Fortschritte haben die Möglichkeiten der Technik erheblich erweitert und sie zu einem anerkannten Standardverfahren in der Materialcharakterisierung gemacht. Das Buch behandelt alle Aspekte der Atomsondenmikroskopie, einschliesslich der Feldionenmikroskopie und der Felddesorptionsmikroskopie, mit einem besonderen Fokus auf die Atomsondentomographie. Es richtet sich an Forschende aller Erfahrungsstufen und bietet sowohl Anfängern als auch erfahrenen Anwendern wertvolle Informationen und Referenzen.299,59 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Novel sensors for scanning force microscopy based on carbon nanotube mechanical resonators, Taschenbuch von Christopher Friedrich Reiche, TUDpress,Novel Sensors For Scanning Force Microscopy Based On Carbon Nanotube Mechanical Resonators, Taschenbuch Von Christopher Friedrich Reiche, Tudpress, 978-3-95908-068-2, Seitenanzahl: 17636,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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PCE SPM 1 - Solarmessgerät PCE-SPM 1Solarmessgerät inkl. Software PCE-SPM 1 Arbeitsschutzmessgerät mit integriertem Sensor, ermittelt die Energieausbeute an Solaranlagen dient ebenfalls zur Findung optimaler Solar-Standorte für Neuanlagen Einstrahlung P tot ermöglicht Langzeitmessung über den internen Messwertspeicher (32.000) Übertragungs- und Auswertesoftware im Lieferumfang enthalten (in englisch) Min-, Max- und Data-Hold Funktion Versorgung mittels 4 Li-Ionen-Batterien (Lebensdauer ca. 16 Tage bei Dauereinsatz) Produktvorteile: Das Arbeitsschutzmessgerät für solare Energie ist das optimale Hand - Prüfgerät für Solaringenieure, Architekten und Hobby-Solarteure. Mit diesem Arbeitsschutzmessgerät ermitteln Sie die Solar-Leistung. Damit wird eine Aussage über die Zusammenstellung und Auslegung einer Photovoltaikanlage möglich. Die Messung der Lichtintensität erfolgt über eine monokristalline Silizium-Solarzelle. Der in das solare Arbeitsschutzmessgerät integrierte Prozessor sorgt für eine automatische Korrektur zum Erhalt der Grundgenauigkeit nach der Kalibrierung jedes Gerätes im Solar-Simulator. Die wichtigste Kenngröße P tot (in W/m2) ist direkt am Display ablesbar. Die im internen Speicher (32.000 Messwerte) enthaltenen Daten können mit Hilfe der Software an die serielle Schnittstelle eines PC übertragen werden. Dieses Arbeitsschutzmessgerät wurde auch für den Außeneinsatz konzipiert und besitzt ein witterungsbeständiges Kunststoffgehäuse. Seine kompakten Abmessungen erlauben eine komfortable Einhandbedienung. 1. Solar - Direktmessung vor Ort Mit dem Arbeitsschutzmessgerät kann eine direkte Messung der Energie an einer definierten Position vorgenommen werden. Diese Messwerte können u. a. zur Überprüfung des Wirkungsgrades von PV-Modulen oder Solar Thermie-Anlagen herangezogen werden. 2. Simulation von Temperatur, Leistung, Spannung und Strom von PV- Modulen Achtung: nur in Kombination mit dem von uns angebotenen Multimeter möglich. 3. Langzeitmessungen Für Messungen über längere Zeiträume ist das Arbeitsschutzmessgerät intern mit einem Datenlogger ausgestattet. Sonnenstrahlung Das Arbeitsschutzmessgerät erkennt die volle solare Strahlung, d.h. sowohl die direkte Strahlung, als auch die difusse solare Strahlung der Atmosphäre. Der größte Energieanteil der Sonnenstrahlung, der auf die Oberfläche der Erde reflektiert, befindet sich in der infraroten sichtbaren Streife des Spektrums, da die Ultraviolettstrahlung durch die Atmosphäre absorbiert wird. Die Sonnenstrahlung ist unterschiedlich im Laufe des Jahres, da der Winkel der einfallenden Lichtstrahlen im Sommer größer als im Winter ist und die Strahlen fallen im Sommer senkrechter ein. Technische Daten: Technische Spezifikation Messbereich 0 ... 2000 W/m2 Auflösung 1 W/m2 Genauigkeit +-10 W/m2 oder +-5 % (es gilt der höhere Wert) Spektralbereich 400 ... 1100 nm Datenspeicher 32.000 Messwerte Messrate einstellbar Datenübertragung serielle RS232-Schnittstelle Anzeige LCD Umgebungstemperaturbereich 0 ... +50 °C Max. Feuchte Betriebsversorgung 4 x 1,5 V AAA Li-Ionen-Batterie (für ca. 16 Tage Dauereinsatz) Abmessung 111 x 64 x 34 mm Gewicht 165 g Lieferumfang: 1 x Arbeitsschutzmessgerät PCE-SPM 1 1 x interner Sensor 1 x interner Messwertspeicher 1 x RS-232-PC-Kabel 1 x Software 4 x Batterie 1 x Gerätetasche 1 x Anleitung320,95 €*Versand: 5,95 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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RPI DEBUG PROBE - Raspberry Pi Debug ProbeDie Raspberry Pi Debug Probe ist ein All-in-One-USB-to-Debug-Kit, das alle erforderlichen Hardware und Kabel für einfaches, lötfreies Plug-and-Play-Debugging bereitstellt. Es verfügt sowohl über eine serielle Debug-Schnittstelle des Prozessors (standardmäßig die Arm Serial Wire Debug-Schnittstelle, aber andere Schnittstellen können unterstützt werden), als auch über eine branchenübliche UART-Schnittstelle. Beide Schnittstellen verwenden den 3-poligen Debug-Anschluss des Raspberry Pi, wie in der Spezifikation des 3-poligen Debug-Anschlusses des Raspberry Pi beschrieben (siehe Datenblätter). Die Raspberry Pi Debug Probe ist ein Kit, das die Debug Probe-Hardware in einem eigenen Kunststoffgehäuse zusammen mit einem USB-Kabel und drei Arten von Debug-Kabeln umfasst und die überwiegende Mehrheit der Debug-Anwendungsfälle abdeckt. Es wurde entwickelt, um das Debuggen und Programmieren von Raspberry Pi Pico und RP2040 mit einer Reihe von Hostplattformen, einschließlich Windows, Mac und typischen Linux-Computern, zu vereinfachen, auf denen Sie keinen GPIO-Header haben, um sich direkt mit dem seriellen UART oder dem Pico zu verbinden (SWD-Port). Obwohl die Debug Probe für die Verwendung mit Raspberry Pi-Produkten entwickelt wurde, bietet sie standardmäßige UART- und CMSIS-DAP-Schnittstellen über USB, sodass sie auch zum Debuggen aller Arm-basierten Mikrocontroller verwendet werden kann, die einen SWD-Port mit 3V3-E/A oder sogar nur bereitstellen als USB-zu-UART-Kabel. Es funktioniert mit OpenOCD und anderen Tools, die CMSIS-DAP unterstützen. Die Debug Probe basiert auf der Raspberry Pi Pico-Hardware und führt die Open Source Raspberry Pi Picoprobe- Software aus. Die Firmware wird auf die gleiche Weise wie die Raspberry Pi Pico-Firmware aktualisiert, sodass es einfach ist, das Gerät mit der neuesten Firmware auf dem neuesten Stand zu halten oder eine benutzerdefinierte Firmware zu verwenden. Spezifikation • USB zu serieller Debug-Bridge mit zwei Drähten • ARM Serial Wire Debug wird standardmäßig unterstützt • USB-zu-UART-Brücke • kompatibel mit dem CMSIS-DAP-Standard • funktioniert mit OpenOCD und anderen Tools, die CMSIS-DAP unterstützen • befolgt die Spezifikation für den 3-poligen Debug-Anschluss von Raspberry Pi • Nominale E/A-Spannung: 3,3 V • Maße (LxB): 32 × 22 mm Lieferumfang • Debug Probe Platine • hochwertiges transparentes Kunststoffgehäuse • USB-Kabel • Debug-Kabel: 3-poliger JST-Stecker auf 3-poliges JST-Steckerkabel • Debug-Kabel: 3-poliger JST-Anschluss an 0,1-Zoll-Header (weiblich) • Debug-Kabel: 3-poliger JST-Stecker auf 0,1-Zoll-Header (männlich) Nützliche externe Links https://www.raspberrypi.com/documentation/microcontrollers/debug-probe.html https://github.com/raspberrypi/picoprobe11,50 €*Versand: 5,95 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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